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ContourGT 光学轮廓仪系统
详细指标需根据所测量的不同参数、镀层的材料、基底的材质、
镀层的数量及厚度、所测材料的形状等因素来确定。




美国
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Dektak  150 台阶仪
详细指标需根据所测量的不同参数、镀层的材料、基底的材质、
镀层的数量及厚度、所测材料的形状等因素来确定。




美国
XP-1 台阶仪
详细指标需根据所测量的不同参数、镀层的材料、基底的材质、
镀层的数量及厚度、所测材料的形状等因素来确定。




美国
V50 非接触式高度测量仪
详细指标需根据所测量的不同参数、镀层的材料、基底的材质、
镀层的数量及厚度、所测材料的形状等因素来确定。




德国